半導体ウェーハパターン検査装置 NGR3520
設計データとSEM画像との比較を行う「Die to Database アルゴリズム」の採用により、先端半導体デバイス製造におけるシステマティックな問題を迅速に解決します。
お知らせ
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2018年04月18日
トピックス
NEW !パテントウォール 完成しました
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2018年03月09日
ニュース
NEW !SEMICON CHINA 2018に出展します
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2018年02月28日
トピックス
NEW !受付、会議室を新設しました
- 2018年01月15日 ニュース SEMICON KOREA 2018に出展します
- 2017年12月12日 ニュース SEMICON JAPAN(セミコンジャパン）2017に出展します
