半導体ウェーハパターン検査装置 NGR3520
設計データとSEM画像との比較を行う「Die to Database アルゴリズム」の採用により、先端半導体デバイス製造におけるシステマティックな問題を迅速に解決します。
お知らせ
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2018年06月22日
トピックス
NEW !ゴルフ部紹介
- 2018年05月21日 トピックス テニス部始動！！
- 2018年04月18日 トピックス パテントウォール 完成しました
- 2018年03月09日 ニュース SEMICON CHINA 2018に出展します
- 2018年02月28日 トピックス 受付、会議室を新設しました
