半導体ウェーハパターン検査装置 NGR3520
設計データとSEM画像との比較を行う「Die to Database アルゴリズム」の採用により、先端半導体デバイス製造におけるシステマティックな問題を迅速に解決します。
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2019年01月09日
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NEW !SEMICON KOREA2019に出展します
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2019年01月07日
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2018年12月26日
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- 2018年10月29日 ニュース ISO9001の認証を取得しました
- 2018年09月03日 ニュース SEMICON TAIWAN2018に出展します